| Поле | Название | Значение |
| |
Тип записи |
a |
| |
Библиографический уровень |
b |
| 001 |
Контрольный номер |
ULGU/FULLTEXT/97752f40b7b54a739517ee75b8add85c |
| 005 |
Дата корректировки |
20240614112911.6 |
| 008 |
Кодируемые данные |
240614s2024||||ru |||||||||||||||||rus|d |
| 040 |
Источник каталогиз. |
__ |
| a |
Служба первич. каталог. |
НБ УлГУ |
| b |
Код языка каталог. |
rus |
| 041 |
Код языка издания |
0_ |
| a |
Код языка текста |
rus |
| h |
Код языка оригинала |
rus |
| 084 |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
__ |
| a |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
22.3с |
| 100 |
Автор |
1_ |
| a |
Автор |
Ларионов, Ю. В. |
| u |
Дополнение |
Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (Москва) |
| 4 |
Код отношения |
070 |
| 245 |
Заглавие |
10 |
| a |
Заглавие |
Роль вторичных электронов из участков наноканавки в ее РЭМ изображении |
| 336 |
Вид содержания |
__ |
| a |
Термин вида содержания |
Текст |
| 337 |
Средство доступа |
__ |
| a |
Термин типа средства |
непосредственный |
| 504 |
Библиография |
__ |
| a |
Библиография |
Библиогр.: с. 943 (12 назв.) |
| 520 |
Аннотация |
0_ |
| a |
Аннотация |
Особенности рассеяния вторичных электронов в наноканавках были выявлены экспериментально по итогам их сканирования в низковольтном растровом электроном микроскопе. Значимая роль в генерации потока медленных вторичных электронов (МВЭ), создающих изображение в микроскопе, принадлежит вторичным электронам, рассеиваемым одними участками поверхности наноканавки к другим участкам. |
| 650 |
Тематические рубрики |
14 |
| a |
Основная рубрика |
Физика |
| 650 |
Тематические рубрики |
14 |
| a |
Основная рубрика |
Физические приборы и методы физического эксперимента |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
вторичные электроны |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
наноканавки |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
РЭМ изображение |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
растровые электронные микроскопы |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
медленные вторичные электроны |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
МВЭ |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
нанометрология |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
рассеивание электронов |
| 653 |
Ключевые слова |
1_ |
| a |
Ключевые слова |
участки поверхностей |
| 700 |
Другие авторы |
12 |
| a |
Другие авторы |
Озерин, Ю. В. |
| u |
Дополнение |
Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (Москва) |
| 4 |
Код отношения |
070 |
| 773 |
Источник информации |
18 |
| w |
Контрольный № источника |
ULGU/FULLTEXT/220c021dc3324815b68a628cda8c1f5e |
| t |
Название источника |
Журнал технической физики |
| d |
Место и дата издания |
2024 |
| g |
Прочая информация |
№ 6. - С. 934-943 |
| x |
ISSN |
0044-4642 |
| 856 |
Электронный адрес документа |
40 |
| u |
URL |
https://journals.ioffe.ru/articles/58134 |
| 901 |
Тип документа |
__ |
| t |
Тип документа |
b |
| 911 |
Журнальная рубрика |
__ |
| a |
Журнальная рубрика |
Физическая электроника |