Поле | Название | Значение |
|
Тип записи |
a |
|
Библиографический уровень |
b |
001 |
Контрольный номер |
ULGU/FULLTEXT/238dd24cf5a7410989ef7b1c661e54d7 |
005 |
Дата корректировки |
20240613103316.6 |
008 |
Кодируемые данные |
240611s2024||||ru |||||||||||||||||rus|d |
040 |
Источник каталогиз. |
__ |
a |
Служба первич. каталог. |
НБ УлГУ |
b |
Код языка каталог. |
rus |
041 |
Код языка издания |
0_ |
a |
Код языка текста |
rus |
h |
Код языка оригинала |
rus |
084 |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
__ |
a |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
22.379 |
100 |
Автор |
1_ |
a |
Автор |
Королев, С. А. |
u |
Дополнение |
Институт физики микроструктур РАН (Нижний Новгород) |
4 |
Код отношения |
070 |
245 |
Заглавие |
10 |
a |
Заглавие |
Анализ и сопоставление характеристик неохлаждаемых диодных детекторов миллиметрового диапазона в рамках обобщенной теоретической модели |
336 |
Вид содержания |
__ |
a |
Термин вида содержания |
Текст |
337 |
Средство доступа |
__ |
a |
Термин типа средства |
непосредственный |
504 |
Библиография |
__ |
a |
Библиография |
Библиогр.: с. 887 (18 назв.) |
520 |
Аннотация |
0_ |
a |
Аннотация |
В рамках обобщенной теоретической модели неохлаждаемых диодных детекторов миллиметрового диапазона проведен анализ и сопоставление их достижимых характеристик. В основе подхода лежит туннельная модель токопереноса. Рассмотрена одномерная структура, состоящая из полупроводникового/диэлектрического барьерного слоя, расположенного между двумя электродами. Рассеяние носителей заряда в барьерном слое предполагается несущественным. |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Физика |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Физика полупроводников и диэлектриков |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
диодные детекторы |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
миллиметровые волны |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
прямое детектирование |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
токоперенос |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
полупроводниковые структуры |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
барьерные слои |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
рассеяние носителей заряда |
773 |
Источник информации |
18 |
w |
Контрольный № источника |
ULGU/FULLTEXT/220c021dc3324815b68a628cda8c1f5e |
t |
Название источника |
Журнал технической физики |
d |
Место и дата издания |
2024 |
g |
Прочая информация |
№ 6. - С. 881-887 |
x |
ISSN |
0044-4642 |
856 |
Электронный адрес документа |
40 |
u |
URL |
https://journals.ioffe.ru/articles/58129 |
901 |
Тип документа |
__ |
t |
Тип документа |
b |
911 |
Журнальная рубрика |
__ |
a |
Журнальная рубрика |
Твердотельная электроника |