Поле | Название | Значение |
|
Тип записи |
a |
|
Библиографический уровень |
b |
001 |
Контрольный номер |
ULGU/FULLTEXT/b647a2157531473db865db4a8cd1192b |
005 |
Дата корректировки |
20240301102729.7 |
008 |
Кодируемые данные |
240212s2024||||ru||||||||||||||||||rus|d |
040 |
Источник каталогиз. |
__ |
b |
Код языка каталог. |
rus |
a |
Служба первич. каталог. |
НБ УлГУ |
041 |
Код языка издания |
0_ |
a |
Код языка текста |
rus |
h |
Код языка оригинала |
rus |
084 |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
__ |
a |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
22.311 |
100 |
Автор |
1_ |
a |
Автор |
Сотский, А. Б. |
u |
Дополнение |
Могилевский государственный университет имени А. А. Кулешова |
4 |
Код отношения |
070 |
245 |
Заглавие |
10 |
a |
Заглавие |
Метод m-линий при рефлектометрии ультратонких слоев |
336 |
Вид содержания |
__ |
a |
Термин вида содержания |
Текст |
337 |
Средство доступа |
__ |
a |
Термин типа средства |
непосредственный |
504 |
Библиография |
__ |
a |
Библиография |
Библиогр.: с. 276-277 (24 назв.) |
520 |
Аннотация |
0_ |
a |
Аннотация |
Получено решение векторной электродинамической задачи описания распределения интенсивности когерентного светового пучка, отраженного от плоскослоистой среды. Определены условия наблюдения m-линий в названном распределении при отражении гауссова пучка от ультратонкого (наноразмерного) слоя на подложке. Установлено, что контраст m-линий весьма чувствителен к толщине такого слоя. На этой основе предложен новый метод контроля толщины и показателя преломления ультратонких слоев. |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Физика |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Математическая физика |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
ультратонкие слои |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
m-линии |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
рефлектометрия |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
электродинамические задачи |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
световые пучки |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
плоскослоистая среда |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
гауссовы пучки |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
наноразмерные слои |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Чудаков, Е. А. |
u |
Дополнение |
Могилевский государственный университет имени А. А. Кулешова |
4 |
Код отношения |
070 |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Шилов, А. В. |
u |
Дополнение |
Могилевский государственный университет имени А. А. Кулешова |
4 |
Код отношения |
070 |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Сотская, Л. И. |
u |
Дополнение |
Белорусско-Российский университет (Могилев) |
4 |
Код отношения |
070 |
773 |
Источник информации |
18 |
w |
Контрольный № источника |
ULGU/FULLTEXT/032c028f77a14f2493ea0eade100045c |
t |
Название источника |
Журнал технической физики |
d |
Место и дата издания |
2024 |
g |
Прочая информация |
Т. 94, № 2. - С. 267-277 |
x |
ISSN |
0044-4642 |
856 |
Электронный адрес документа |
40 |
u |
URL |
https://journals.ioffe.ru/articles/57082 |
901 |
Тип документа |
__ |
t |
Тип документа |
b |
911 |
Журнальная рубрика |
__ |
a |
Журнальная рубрика |
Фотоника |