Представление документа в формате MARC21

ПолеНазваниеЗначение
  Тип записи a
  Библиографический уровень b
001 Контрольный номер ULGU/FULLTEXT/2c78a8ef34b64561a7400596b3f09eb5
005 Дата корректировки 20240301102819.9
008 Кодируемые данные 240212s2024||||ru||||||||||||||||||rus|d
040 Источник каталогиз. __
b Код языка каталог. rus
a Служба первич. каталог. НБ УлГУ
041 Код языка издания 0_
a Код языка текста rus
h Код языка оригинала rus
084 Индекс другой классификации/Индекс ББК __
a Индекс другой классификации/Индекс ББК 22.37
100 Автор 1_
a Автор Небогатикова, Н. А.
u Дополнение Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирск)
4 Код отношения 070
245 Заглавие 10
a Заглавие Изменение сопротивления тонких пленок Bi[2]Se[3] и гетероструктур Bi[2]Se[3] на графене при растягивающих деформациях
336 Вид содержания __
a Термин вида содержания Текст
337 Средство доступа __
a Термин типа средства непосредственный
504 Библиография __
a Библиография Библиогр.: с. 266 (20 назв.)
520 Аннотация 0_
a Аннотация Создание вертикальных гетероструктур Bi[2]Se[3] на графене, полученных методом физического осаждения из газовой фазы, приводит не только к более совершенной структуре и проводимости слоя Bi[2]Se[3], но и к улучшению механических свойств. Пленки Bi[2]Se[3] с толщиной 20-40 nm на CVD-графене слабо меняли свое сопротивление при растягивающих деформациях, создаваемых при изгибе структур.
650 Тематические рубрики 14
a Основная рубрика Физика
650 Тематические рубрики 14
a Основная рубрика Физика твердого тела. Кристаллография в целом
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова тонкие пленки
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова гетероструктуры
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова Bi[2]Se[3]
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова графен
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова осаждение
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова газовые фазы
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова изменение сопротивления
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова CVD-графен
653 Ключевые слова 1_
a Ключевые слова растягивающие деформации
700 Другие авторы 12
a Другие авторы Антонова, И. В.
u Дополнение Новосибирский государственный технический университет
4 Код отношения 070
700 Другие авторы 12
a Другие авторы Соотс, Р. А.
u Дополнение Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирск)
4 Код отношения 070
700 Другие авторы 12
a Другие авторы Кох, К. А.
u Дополнение Институт геологии и минералогии им. С. Л. Соболева СО РАН (Новосибирск)
4 Код отношения 070
700 Другие авторы 12
a Другие авторы Климова, Е. С.
u Дополнение Институт геологии и минералогии им. С. Л. Соболева СО РАН (Новосибирск)
4 Код отношения 070
700 Другие авторы 12
a Другие авторы Володин, В. А.
u Дополнение Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирск)
4 Код отношения 070
773 Источник информации 18
w Контрольный № источника ULGU/FULLTEXT/032c028f77a14f2493ea0eade100045c
t Название источника Журнал технической физики
d Место и дата издания 2024
g Прочая информация Т. 94, № 2. - С. 261-266
x ISSN 0044-4642
856 Электронный адрес документа 40
u URL https://journals.ioffe.ru/articles/57081
901 Тип документа __
t Тип документа b
911 Журнальная рубрика __
a Журнальная рубрика Физика низкоразмерных структур